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| 品牌 | BYK/德國 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 產品種類 | 自動 |
BYK 45℃微型光澤度儀4567
具體的材料需要特定的測量角度：
陶瓷材料，塑料薄膜和固體塑料，紙和紙板可以測量20°，60°，85°標準幾何形狀或45°或75°工業(yè)特定幾何形狀的鏡面光澤度。不透明和透明的塑料薄膜和固體塑料通常在45°角度下測量中等和低光澤度。對于透過光線的薄膜，必須在樣品后面放置一層如黑色的磨砂面板（如黑色磨砂面板）5015，在沒有合適的背襯的情況下進行錯誤的測量，標準測試方法要求讀數在每個樣品的至少三個部分，以獲得光澤均勻性的指示，微光澤的統(tǒng)計模式將顯示平均值和范圍或標準偏差作為樣品均勻性的量度，陶瓷，搪瓷和其他飾面使用45 °幾何形狀，并通常通過測量光澤度損失來比較它們對酸，堿或其它環(huán)境因素的抵抗力。
為了評估光澤度的變化，必須在整個樣品表面上進行多次讀數并評估平均值以確保代表性結果ASTM C 346，D 2457，JIS Z 8741應用：陶瓷，塑料，塑料薄膜，測量范圍10 - 180 GU。μ標準ISO 2813,7668 ASTM D 523，D 2457 DIN 67530 JIS Z 8 741系統(tǒng)要求：操作系統(tǒng)32位：Windows®7 SP1或8.1Microsoft®.NET Framework 4硬件：Core 2 Duo，2.2 GHz，推薦i7或等效內存：4 GB RAM，推薦8 GB硬盤容量：分鐘。 300 MB顯示器分辨率：1280 x 1024像素或更高接口：空閑的USB端口。
測量范圍：0 - 180GU
測量面積：9 x 13毫米（0.35 x 0.5英寸）
重復性：±0.2 GU /±0.2％
重現性：±0.5 GU /±0.5％
光譜靈敏度：用于光源CIE-C的CIE標準觀測器
測量時間：0.5秒/幾何
厚度：
基材 - 鐵：磁性，NFe：非磁性
測量范圍：0 - 500Mm（0 - 20密耳）
準確度：±（1.5Mm +測量值的2％）
記憶：999日期和時間的讀數
接口：USB
電源：一個1.5V AA堿性電池4,000個讀數或通過USB端口
