產(chǎn)品目錄
聯(lián)系方式
聯(lián)系人：朱經(jīng)理
手機(jī)：15921165535
電話：86-021-58951071
傳真：86-021-50473901
地址：上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
郵編：
網(wǎng)址：m.tsgtcs.com.cn
郵箱：814294500@qq.com
微電阻法
它如何進(jìn)行測(cè)量的？有哪些重要的因素？
微電阻法適用于測(cè)量絕緣基板上導(dǎo)電鍍層的厚度，符合標(biāo)準(zhǔn)ISO 14571。它經(jīng)常用于檢測(cè)印刷電路板和多層PCB上的銅鍍層厚度。微電阻率法的優(yōu)點(diǎn)是電路板的其他層對(duì)測(cè)量不產(chǎn)生影響，因此它可以精確地測(cè)量最上層的厚度。
物理原理
微電阻法的探針有排成一排的4個(gè)探針。當(dāng)把探針?lè)胖迷诒粋?cè)面上時(shí)，電流在兩個(gè)最外層探針之間流動(dòng)。而位于內(nèi)側(cè)兩個(gè)探針之間的鍍層作為電阻，可以測(cè)出其電勢(shì)差。該電阻值——或者說(shuō)是該電勢(shì)差——與鍍層厚度成反比。
測(cè)量過(guò)程中需要注意的事項(xiàng)
所有的電磁測(cè)量法都是通過(guò)比較的方法。也就是將測(cè)量信號(hào)與存儲(chǔ)在設(shè)備中的特征曲線進(jìn)行比較。為了得到正確的結(jié)果，特征曲線必須與當(dāng)前條件相匹配，可通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)實(shí)現(xiàn)。
正確的校準(zhǔn)才是關(guān)鍵！
影響測(cè)量結(jié)果的重要因素包括：鍍層的電阻率、樣品的形狀以及表面的粗糙度。此外，操作人也會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。
電阻率的影響
除了鍍層的厚度，銅的電阻率也會(huì)影響探針之間的電勢(shì)差。電阻的變化取決于的合金材料的不同以及其加工方式，溫度也會(huì)引起其電阻的變化。這可能需要進(jìn)行溫度補(bǔ)償，或在相同的測(cè)量環(huán)境條件下進(jìn)行校準(zhǔn)。
樣品形狀的影響
在非常小的樣品中，電場(chǎng)的分布與大面積樣品中的分布不同，這種偏差導(dǎo)致了涂層厚度測(cè)量的系統(tǒng)誤差。因此，對(duì)于小樣品而言，需要特殊規(guī)格的探頭，或者探針距樣品的邊緣有最小距離的要求。
操作人員的影響
最后重要一點(diǎn)，儀器的操作方式也是一個(gè)主要的影響因素。確保探頭始終垂直接觸被測(cè)面，且不受外力。為了獲得更準(zhǔn)確的測(cè)量值，還可以借助測(cè)量臺(tái)來(lái)使探頭自動(dòng)接觸樣品。
